PRODUCT CLASSIFICATION
在電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)與質(zhì)量管控過程中,環(huán)境適應(yīng)性是衡量其可靠性與耐使用性的核心指標(biāo)。電子產(chǎn)品在實際使用中,會面臨從寒冷極地到濕熱熱帶的極限溫度變化,以及從干燥沙漠到潮濕沿海的濕度波動,這些環(huán)境因素可能導(dǎo)致元器件老化、性能衰減甚至功能失效。大型高低溫濕度試驗箱作為一種能模擬寬范圍溫濕度環(huán)境的測試設(shè)備,通過人工營造極限或循環(huán)的溫濕度條件,可全面評估電子產(chǎn)品在復(fù)雜環(huán)境下的適應(yīng)能力,為其可靠性設(shè)計與質(zhì)量改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。本文將從設(shè)備特性、測試原理、關(guān)鍵指標(biāo)及應(yīng)用場景等方面,深入解析大型高低溫濕度試驗箱在電子產(chǎn)品測試中的技術(shù)價值。
此外,大型設(shè)備普遍配備先進(jìn)的控制系統(tǒng)與監(jiān)控功能。通過 PLC(可編程邏輯控制器)與觸摸屏組成的操作界面,可實現(xiàn)測試程序的自定義編輯(支持 100 段以上的溫濕度曲線設(shè)置)、實時數(shù)據(jù)采集與曲線顯示。部分設(shè)備還具備遠(yuǎn)程監(jiān)控功能,通過以太網(wǎng)或物聯(lián)網(wǎng)模塊,可在手機(jī)、電腦端實時查看測試狀態(tài)、接收異常報警(如超溫、濕度失控),大幅提升測試過程的便捷性與安全性。
濕度對電子產(chǎn)品的危害主要源于水汽的滲透與電化學(xué)腐蝕。當(dāng)環(huán)境濕度超過臨界值時,水汽會通過元器件的縫隙、引腳間隙進(jìn)入內(nèi)部,在 PCB 板表面形成水膜。若此時存在電場(如電路通電狀態(tài)),水膜會成為電解質(zhì),引發(fā)電化學(xué)遷移(如銀離子遷移),導(dǎo)致焊點間出現(xiàn)導(dǎo)電細(xì)絲,最終造成短路失效。高濕度環(huán)境還會加劇金屬引腳的銹蝕,使接觸電阻增大,影響信號傳輸或電源供給,例如手機(jī)充電接口在濕熱環(huán)境下長期使用后,可能出現(xiàn)充電中斷、接觸不良等問題。
溫濕度組合作用會產(chǎn)生更復(fù)雜的失效機(jī)制。在高溫高濕環(huán)境中,水汽的滲透速率顯著加快,同時高溫會促進(jìn)化學(xué)反應(yīng),使腐蝕、氧化等過程加速。例如,筆記本電腦在 40℃、90% RH 環(huán)境下運行時,鍵盤下方的 PCB 板可能因水汽滲透與高溫協(xié)同作用,導(dǎo)致按鍵電路氧化,出現(xiàn)按鍵失靈;而在低溫低濕環(huán)境中,塑料外殼可能因脆化而開裂,同時靜電積累風(fēng)險增加,可能擊穿芯片內(nèi)部的絕緣層。
大型高低溫濕度試驗箱通過精準(zhǔn)控制溫濕度參數(shù),可針對性模擬這些失效場景:例如,測試工業(yè)服務(wù)器時,采用 “40℃、95% RH 保持 100h" 的恒定溫濕度試驗,評估其在濕熱環(huán)境下的長期穩(wěn)定性;測試智能手表時,采用 “-20℃(30% RH)保持 1h→60℃(90% RH)保持 1h" 的循環(huán)試驗,模擬用戶從寒冷室外進(jìn)入溫暖室內(nèi)的濕度驟變場景,驗證其防水密封與電路穩(wěn)定性。
航空航天領(lǐng)域的測試條件接近極限。衛(wèi)星通信設(shè)備需在 - 150℃(太空低溫)至 120℃(再入大氣層高溫)的范圍內(nèi)工作,試驗箱需與低氣壓艙組合,模擬 1kPa(約 10km 高空)的低氣壓環(huán)境,測試設(shè)備在極限溫濕度與低氣壓下的開機(jī)成功率(≥99.9%)。機(jī)載雷達(dá)的發(fā)射模塊需承受 - 55℃至 70℃的溫度沖擊,確保在飛機(jī)起降的快速溫變中不出現(xiàn)功率衰減。
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